SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
标准名称: | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 |
英文名称: | Method of analysis by emission spectrum of impurities in Aluminium trioxide for use in electronic ceramics |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子设备用绝缘零件 |
替代情况: | 被SJ/T 10551-1994代替 |
发布日期: | |
实施日期: | 1988-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 3页 |
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