IEC 60191-2 AMD 12-2006 半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸.修改件12

作者:标准资料网 时间:2024-05-11 01:49:13   浏览:9628   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part2:Dimensions;Amendment12
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸.修改件12
【标准号】:IEC60191-2AMD12-2006
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2006-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电路;组件;名称与符号;尺寸;二极管;电气外壳;电气设备;电气工程;电驱动装置;电子工程;电子设备及元件;外壳;完整的;集成电路;作标记;销(钉);半导体器件;半导体;符号;电信;半导体闸流管套;半导体闸流管
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:多种语言


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【英文标准名称】:ShredderExplosionProtection
【原文标准名称】:切碎机防爆
【标准号】:ASTME1248-1990
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:防爆;准备;金属废料
【英文主题词】:explosionprotection;preparation;metalscrap
【摘要】:
【中国标准分类号】:C67
【国际标准分类号】:13_220_60
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Lowairpressure
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.低气压
【标准号】:BSEN60749-2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-09-24
【实施或试行日期】:2002-09-24
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:温度变化;电气工程;气候试验;元部件;外观检查(试验);易燃性;环境测试;机械测试;测试;电子工程;环境;耐力;半导体;温度;热学;集成电路;大气压;半导体器件;电子设备及元件;尺寸;电学测量;密封性;湿气;气候;环境试验
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749coversthetestingoflowairpressureonsemiconductordevices.Thetestisintendedprimarilytodeterminetheabilityofcomponentpartsandmaterialstoavoidvoltagebreakdownfailuresduetothereduceddielectricstrengthofairandotherinsulatingmaterialsatreducedpressures.Thistestisonlyapplicabletodeviceswheretheoperatingvoltageexceeds1000V.Thistestisapplicabletoallsemiconductordevicesprovidedtheyareincavitytypepackages.Thetestisintendedformilitaryandspace-relatedapplicationsonly.Ingeneral,thistestoflowairpressureisinconformitywithIEC60068-2-13but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语